Materiaalkarakterisering neemt een belangrijke plaats in bij de ontwikkeling en toetsing van nieuw ontwikkelde materialen en productietechnieken. Met het uitgebreide materiaalkundig laboratorium kan de samenstelling, microstructuur en de opbouw van materialen en opgespoten lagen worden onderzocht.
Met de beschikbare microscopische technieken als lichtmicroscopie, scanning elektronenmicroscopie (SEM) en atomic force microscopie (AFM) worden routinematig details tot 5 nm resolutie zichtbaar gemaakt. Met het aan de elektronenmicroscoop gekoppelde analysesysteem kan de materiaalsamenstelling snel worden vastgesteld. Ook variaties in de samenstelling, bijvoorbeeld als gevolg van een diffusieproces, kunnen zichtbaar gemaakt worden.
Naast de karakterisering met microscopische en fysische technieken, worden de materialen ook nog gekarakteriseerd op hun mechanische eigenschappen: trek- druk- en buigsterkte tot een belasting van 100 kN, hardheid middels Macro en Micro Vickers, Knoop, Brinell tot een belasting van 30 kg, en Rockwell tot een belasting van 150 kg.