Atomic Force Microscope

Met de AFM kan het ware oppervlak van een materiaal worden onderzocht. Voordelen ten opzichte van de SEM zijn dat alleen het uiterste oppervlak wordt onderzocht en dat de verticale resolutie in het nanometerbereik ligt. De AFM scant in 'full-contact' het oppervlak met een wolfram naald. De bewegingen van de naald worden met een laser afgelezen en vertaald in verticale en laterale bewegingen. Omdat ook kwantitatieve informatie over de verticale beweging bekent is, kan de oppervlakte morfologie in 3D kwantitatief worden vastgelegd, zie onderstaande figuur. 

AFM opname van het oppervlak van een zonnecel.